Vivo Nex S (scratch test) : le capteur photo coulissant résiste à la torture, en vidéo
Le Vivo Nex S et son capteur photo frontal coulissant sont passés entre les mains expertes de Jerry Rig Everything pour un scratch test sans concessions. L’homme a mis à rude épreuve le capteur photo frontal, le scanner d’empreintes digitales sous l’écran et le design en verre du Vivo Nex S, en vidéo. Alors, comment s’en est sorti le smartphone borderless ?
Le Vivo Nex, le premier smartphone vraiment borderless, a souvent vu sa solidité remise en cause par ses détracteurs. Pour faire taire les mauvaises langues, Zack, de la chaîne Youtube Jerry Rig Everything, s’est procuré un Vivo Nex S, l’une des déclinaisons les plus haut de gamme du smartphone.
Vivo Nex S : un scratch test prouve la solidité de son capteur photo coulissant
D’après le torture test réalisé, le Vivo Nex S n’est fragile qu’en apparence. La coque arrière, tout en verre, et l’écran OLED borderless résistent à merveille aux coups de cutter du Youtubeur. Même son de cloche du côté du capteur d’empreintes digitales, intégré directement sous l’écran.
Contrairement à d’autres smartphones haut de gamme sur le marché, la structure du Vivo Nex S ne se plie pas facilement. Il est très difficile de parvenir à plier le terminal de façon à l’endommager parce qu’il bénéficie d’une construction flexible, note Jerry Rig Everything.
Venons-en maintenant au capteur photo frontal coulissant. Comme l’ont souligné la plupart des médias, la caméra escamotable profite d’une construction solide et durable. Le capteur endure les coups de lame sans défaillir. Même constat pour son double module photo arrière.
Aux dernières nouvelles, la seule faille du Vivo Nex S n’est pas liée à son hardware, mais à son logiciel. D’après les premiers retours d’utilisateurs, le capteur photo frontal coulissant du Vivo Nex se déploie parfois même lorsqu’il n’est pas sollicité. On ignore si ce bug peut être corrigé par une simple mise à jour logicielle. Vivo affirme en tout cas avoir conscience du problème.
